Nano-CEM ® :
SMEE
vous propose une nouvelle prestation alliant les compétences de
notre bureau d'études et notre expérience de la CEM.
Cette méthode est particulièrement indiquée pour
la caractérisation des composants en EMR (Emission Rayonnée)
et IMR (Immunité Rayonnée).
Elle répond à l'attente des fondeurs et des fabricants de
composants dans ce domaine.
Nous avons baptisée cette solution la Nano-CEM ®. (
marque déposée)
Nano-CEM
Mesures de compatibilité électromagnétique sur les
circuits intégrés, les capteurs, les composants en général
mais aussi les nano-produits et les nano-systèmes…
Cette méthode
inspirée des projets de normes EN 61697 et IEC62132 fait appel
à des solutions en cellule TEM et G-TEM.
Une des caractéristiques de cette méthode consiste à
isoler le composant de son environnement. Pour cela nous pouvons utiliser
un circuit imprimé qui assure le blindage et le découplage
des signaux.
Un des avantages est la possibilité de couvrir des fréquences
de 150 kHz à 1,2 GHz.
On peut également émettre des champs supérieurs à
200 V/m.
Nouveaux outils :
Cellule
G-TEM EMCO 5402 et son logiciel
Outillages de test pour cellule GTEM
Cellule TEM FCC-TEM-JM1
Fréquences 150 kHz à 1,2 GHz > à 200 V/m
SMEE propose des formations en sécurité ( EN 60950, EN 61010, EN…).
 Caractéristiques
• Plage de Fréquences : 9 kHz - 20 GHz • Puissance Max : 200 V/m • Impédance: 50 ohms •
Dimensions : extérieures • Zone uitle : 150 mm x 150 mm • 1- panneau pour CI : 100 mm x 100 mm • 2- panneau pour produit : 160 mm x 230 mm • Matériel raccordé et suivi en métrologie |
 Domaine
d'application
Cet
outil à pour objet de reproduire des conditions d'environnement
d'essais uniformes et ainsi d'obtenir une mesure quantitative des
perturbations RF pour les circuits intégrés mais aussi
pour tous les produits suceptibles de présenter une activité
au sens de l'émission et de l'immunité rayonnée. Références normatives EN 61967-1 -
IEC62132-1 et divers projets repris dans notre activité Nano-CEM |